- Sections
- H - électricité
- H01J - Tubes à décharge électrique ou lampes à décharge électrique
- H01J 37/09 - Diaphragmes; Ecrans associés aux dispositifs électronoptiques ou ionoptiques; Compensation des champs perturbateurs
Détention brevets de la classe H01J 37/09
Brevets de cette classe: 427
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| ASML Netherlands B.V. | 6816 |
52 |
| Hitachi High-Tech Corporation | 4424 |
41 |
| Hitachi High-Technologies Corporation | 2034 |
38 |
| NuFlare Technology, Inc. | 770 |
31 |
| Carl Zeiss Microscopy GmbH | 1146 |
19 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 549 |
18 |
| ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH | 149 |
15 |
| Carl Zeiss MultiSEM GmbH | 85 |
15 |
| FEI Company | 851 |
11 |
| Axcelis Technologies, Inc. | 429 |
10 |
| Hitachi High-Tech Science Corporation | 326 |
9 |
| Applied Materials, Inc. | 16587 |
9 |
| JEOL Ltd. | 556 |
8 |
| Mapper Lithography IP B.V. | 136 |
8 |
| Hitachi, Ltd. | 16452 |
7 |
| Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | 1282 |
7 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 2646 |
7 |
| KLA Corporation | 1223 |
7 |
| IMS Nanofabrication GmbH | 56 |
5 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 36809 |
4 |
| Autres propriétaires | 106 |